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X射线CT在高粱籽粒结构分析中的应用
2022-09-06 15:28
admin
已知整个高粱籽粒的结构特征会影响最终使用质量,但对该结构的传统评估是二维的(即,
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籽粒的横截面)。目前的技术为考虑谷物的三维结构特征提供了可能性。X射线计算机断层成像(CT)提供了这样一种机会,可以从谷粒颖果中无损地提取定量数据,然后这些数据可以与最终使用质量相关。
从籽粒高粱颖果的CT扫描中提取出表型测量值。胚体积、胚乳硬度、胚乳质地、胚乳体积、果皮体积和籽粒体积的表型变异较大。CT得出的估计值与地面实况测量有很强的相关性,从而能够识别出具有优越结构特征的基因型
19个基因型的高粱籽粒结构CT估计值中与因子相关的百分比方差。复制指的是独立的CT扫描,而行和列指的是CT机内的空间位置
本文提出了一种表型流水线,用于量化籽粒高粱颖果的三维结构特征,
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从而提高了以前难以测量的性状的处理效率。将这一工作流程调整到其他小种子作物上是可能的,这为科学家以非破坏性的方式研究谷物提供了新的独特机会,最终将导致最终使用质量的提高。
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